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水稻表型检测系统

产品简介

水稻表型检测系统可用于水稻株高、夹角、基粗、水稻亩穗数、理论产量、穗长、总粒数和千粒重以及水稻茎秆分析等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。

产品型号：KM-SDY

更新时间：2025-05-07

浏览次数：431

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小麦面粉大米检测化验仪器

圆型验粉筛小麦检测仪面筋测定仪降落数值仪面团拉伸仪电动筛选器谷物分析仪磁性分离板

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品牌	科铭光电	价格区间	面议
仪器种类	便携式	产地类别	国产
应用领域	食品/农产品,农林牧渔,综合

水稻育种研究中，水稻表型参数至关重要，水稻表型检测仪可用于水稻株高、夹角、基粗、水稻亩穗数、理论产量、穗长、总粒数和千粒重以及水稻茎秆分析等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体，一站式解决水稻的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的水稻研究。

水稻表型检测系统技术参数

测量范围和误差：

1、水稻亩穗数测量误差： ≤±5%

2、稻穗形态测量范围： 5~20cm

3、水稻夹角测量范围： 0-180°

4、作物茎粗： 0-5.2cm

误差

穗长误差： ±2%

夹角测量误差： +5%

作物茎粗测量误差： ±1mm

千粒重测量误差： ±2%

株高测量范围： 0.1-1.5m

水稻茎秆测量误差：.....±5%

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