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    Product Center
    • FN-II谷物降落数值测定仪

      谷物降落数值测定仪适用于谷物如小麦、小麦粉等,是粮食储藏、面粉加工等领域的质量检测仪器。

      更新时间:2025-05-07
      型号:FN-II
      浏览量:594
    • KM-YMBX玉米表型检测仪

      玉米表型检测仪可一键检测分析玉米凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、玉米株高、茎秆节间距和基粗叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和玉米千粒重等高通量表型参数。

      更新时间:2025-05-07
      型号:KM-YMBX
      浏览量:543
    • KM-SDY水稻表型检测系统

      水稻表型检测系统可用于水稻株高、夹角、基粗、水稻亩穗数、理论产量、穗长、总粒数和千粒重以及水稻茎秆分析等指标的测量,可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。

      更新时间:2025-05-07
      型号:KM-SDY
      浏览量:431
    • KM-DMII大米碎米测定仪

      KM-DMII大米碎米测定仪用于代替人工目测来客观、快速、准确地自动检测大米的加工精度,具有重复性和再现性好等优点

      更新时间:2025-05-07
      型号:KM-DMII
      浏览量:495
    • KM-DMJD大米加工精度分析仪

      大米加工精度分析仪用于代替人工目测来客观、快速、准确地自动检测大米的加工精度,适用于科研院所、检测单位、碾米厂和流通企业等。

      更新时间:2025-05-07
      型号:KM-DMJD
      浏览量:726
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